高中物理用计时器测速实验结论
电脑用检测卡，开机后就是一个代码10是什么意思？
电脑用检测卡，开机后就是一个代码10是什么意思？
1、特殊代码“00”和“FF”及其它起始码有三种情况出现: ①已由一系列其它代码之后再出现:“00”或“FF”,则主板OK。 ②如果将CMOS中设置无错误,则不严重的故障不会影响BIOS自检的继续,而最终出现“00”或“FF”。 ③一开机就出现“00”或“FF”或其它起始代码并且不变化则为板没有运行起来。
2、本表是按代码值从小到大排序,卡中出码顺序不定。
3、未定义的代码表中未列出。
4、对于不同BIOS(常用的AMI、Award、Phoenix)用同一代码所代表的意义有所不同,因此应弄清您所检测的电脑是属于哪一种类型的BIOS,您可查问你的电脑使用手册,或从主板上的BIOS芯片上直接查看,也可以在启动屏幕时直接看到。
5、有少数主板的PCI槽只有前一部分代码出现,但ISA槽则有完整自检代码输出。且目前已发现有极个别原装机主板的ISA槽无代码输出,而PCI槽则有完整代码输出,故建议您在查看代码不成功时,将本双槽卡换到另一种插槽试一下。另外,同一块主板的不同PCI槽,有的槽有完整代码送出,如DELL810主板只有靠近CPU的一个PCI槽有完整的代码显示,一直变化到“00”或“FF”,而其它槽走到“38”则不继续变化。
6、复位信号所需时间ISA与PCI不一定同步,故有可能ISA开始出代码,但PCI的复位灯还不熄,故PCI代码停在起始码上。
代码 Award BIOS Ami BIOS Phoenix BIOS或Tandy 3000 BIOS 00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 .
01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。 处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。
02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。 停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。
03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH) 通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。
04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。 键盘控制器软复位/通电测试。 可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。
05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。 已确定软复位/通电;即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。
06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。 已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。
07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。
. 08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。
09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。 第一个64K RAM测试正在进行。
0A 使视频接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。
0B 测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。 第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。
0C 测试8254通道1。 键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。 第一个64K RAN的地址线故障。
0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。 已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵
0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。 初始化输入/输出端口地址。
0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 .
10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64K RAM第0位故障。
11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。 第一个64DK RAM第1位故障。
12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。 第一个64DK RAM第2位故障。
13 测试8741键盘控制器接口。 视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。 第一个64DK RAM第3位故障。
14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。 第一个64DK RAM第4位故障。
15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第6位故障。
17 调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。 第一个64DK RAM第7位故障。
18 测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。 第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。
19 测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。 第一个64DK RAM第9位故障。
1A 测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。 第一个64DK RAM第10位故障。
1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64DK RAM第11位故障。
1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。
1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。
1E 测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。
1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。 20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
激光计时器使用方法？
1．用信号连接电缆将探测器和显示器连接好，接通探测器和显示器的220 V 交电源，按下电源开关。此时，显示器数码显示管点亮；
2.仪器预热，预热时间般为十五分钟左右，对于精度的测试，应适当延长预热时间；
3.移动探测器底座，调整探测器位置, 使激光光束对准探测器光敏面的中心。为使测量结果有好的度，应尽量使激光光束垂直照射在探测器受光面的中心点上；
4.估计被测激光光束的能量，将激光能量计的量程置于适当的 (或大的) 测量档位上；
5.调整示值零点：将显示器上的“保持”开关抬起，调整“调零”旋扭，使仪器示值为零。然后，将“保持”开关按下，并按动“复位”开关，使此时的示值也为零；
6.触发激光，行测试，显示器将保持所测激光脉冲能量值；
7.用复位开关清除上次数据，触发激光，行下次测试；
8.测试结束后，立即旋上探测器的盖子。以保持探测器表面清洁、干燥，并防落上灰尘、油污。